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  HAST（高加快应力测验）老化试验箱经过模仿高温、高湿、高压环境，加快产品老化进程，评价其在极点条件下的可靠性和耐久性。其使用范畴可体系归纳如下：

  用于IC封装、半导体芯片、晶体管、电容电阻等元器件的密封性及耐湿性测验，经过高压蒸汽浸透检测资料界面失效（如胶体开裂、金属腐蚀等）。

  评价多层电路板（PCB）、连接器、磁性资料在高温高湿环境下的绝缘性能与结构稳定性。

  测验手机、电脑等整机设备的耐候性，辨认规划缺点（如密封不良导致的短路），缩短研制周期。

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  高低温环境试验设备源头工厂，从规划到制造业全链路把控，支撑定制化需求，直接对接厂家更省心。

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